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開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測

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情報処理学会論文誌, vol.53, no.6, pp.1635-1643 (2012)

URL / DOIhttps://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=pages_view_main&active_action=repository_view_main_item_detail&item_id=82616&item_no=1&page_id=13&block_id=8

タグ: fault, fine-grained, historical, metrics, modules, prediction

@article{畑秀明2012,
  author = {畑 秀明 and 水野 修 and 菊野 亨},
  title = {開発履歴メトリクスを用いた細粒度な Fault-prone モジュール予測},
  journal = {情報処理学会論文誌},
  volume = {53},
  number = {6},
  pages = {1635--1643},
  year = {2012},
  month = {jun},
  url = {https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=pages_view_main&active_action=repository_view_main_item_detail&item_id=82616&item_no=1&page_id=13&block_id=8}
}